Optical thickness monitor Accurate control of deposition rate and thickness 光學(xué)膜厚監(jiān)控儀
獨特的頻率測量系統(tǒng),提供穩(wěn)定、高分辨率的速率和厚度測量,賦予監(jiān)控過程卓越的可重復(fù)性。通過沉積控制器,可利用 QCM 傳感器對沉積過程實現(xiàn)速率控制。匯成真空可按您的要求為您提供具有從最基本到最齊全功能的任何沉積控制器。
即使在速率極低的情況下也可確保獲得最高、最穩(wěn)定的速率和厚度測量分辨率,通過自動測定沉積材料的比值,可提高厚度測量的精度,支持多個來源同時共沉積,USB 數(shù)據(jù)存儲功能可存儲屏幕截圖、配方存儲和數(shù)據(jù)記錄。
通過光學(xué)膜厚監(jiān)控儀,您可以極其準(zhǔn)確地控制沉積速度和厚度,能夠達到幾乎任何層數(shù),安裝輕松且可靠性極高,從而確保生產(chǎn)效率。匯成真空提供了一種擁有成本極低的儀表,為您帶來前所未有的價值。無論您的控制需要屬于生產(chǎn)還是研發(fā)領(lǐng)域,都能從光學(xué)膜厚監(jiān)控儀中找到完美的解決方案。